СВОДНЫЙ ЭЛЕКТРОННЫЙ КАТАЛОГ БИБЛИОТЕК БЕЛАРУСИ	История поисков

=LDR  00000nx\\b2200229\\\45\\
=001  BY-SEK-ar8685649
=005  20150323143746.0
=100  \\$a20150323arusy50\\\\\\ca0
=102  \\$aRU
=150  \\$ay
=152  \\$apsbo$bBY-auth
=106  \\$a0
=210  10$aРоссийский симпозиум по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел$d18$f2013$eЧерноголовка, Московская область
=300  0\$aДата проведения: 3 июня–7 июня. Направления: новые методы, приборы и электронная оптика; растровая электронная микроскопия; сканирующая просвечивающая электронная микроскопия; сканирующая зондовая микроскопия; растровая ионная микроскопия; аналитические методы в растровой электронной микроскопии; применение сканирующей электронной и зондовой микроскопии в физике, материаловедении, микроэлектронике, нанотехнологии, химии и геологии; применение сканирующей электронной, зондовой и конфокальной лазерной сканирующей микроскопии в биологии, медицине и экологии.
=300  0\$aОрганизаторы: Научный совет РАН по электронной микроскопии, Институт проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов Российской академии наук, Институт кристаллографии имени А. В. Шубникова РАН.
=410  12$aРЭМ — 2013$gсимпозим$d18$f2013$eЧерноголовка, Московская область
=410  12$aXVIII Российский симпозиум по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел$f2013$eЧерноголовка, Московская область
=410  12$a18 Российский симпозиум по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел$f2013$eЧерноголовка, Московская область
=801  \0$aBY$bBY-HM0005$c20150323
=810  \\$aXVIII Российский симпозиум по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел [Электронный ресурс] : тезисы докладов. — Черноголовка, 2013.
=856  4\$uhttp://www.nanometer.ru/2012/11/20/rastrovaa_elektronnaa_mikroskopia_299124.html$zСайт "Нанометр" (нанотехнологическое сообщество).
=999  \\$f25 cnb-nbo$t20150323