СВОДНЫЙ ЭЛЕКТРОННЫЙ КАТАЛОГ БИБЛИОТЕК БЕЛАРУСИ	История поисков

=LDR  00000cx\\b22002173\\45\\
=001  BY-SEK-ar6705107
=005  20181113152501.9
=100  \\$a20131120arusy50\\\\\\ca0
=102  \\$aRU
=150  \\$ay
=152  \\$apsbo$bBY-auth
=106  \\$a0
=210  00$a"МИСиС"$gнациональный исследовательский технологический университет$cМосква$bКафедра физики
=410  02$aКафедра физики Национального исследовательского технологического университета "МИСиС"$cМосква
=410  00$8rusbel$a"МІСіС"$gнацыянальны даследчы тэхналагічны ўніверсітэт$cМасква$bКафедра фізікі
=410  02$8rusbel$aКафедра фізікі Нацыянальнага даследчага тэхналагічнага ўніверсітэта "МІСіС"$cМасква
=801  \2$aBY$bBY-HM0000$c20181113
=801  \0$aBY$bSEK$c20131120
=810  \\$aСовременные методы исследования наноструктур. Метод оптической поверхностно-плазмонной микроскопии : учебное пособие / С. И. Валянский, Е. К. Наими ; под редакцией Д. Е. Капуткина ; Министерство образования и науки РФ, Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Национальный исследовательский технологический университет "МИСиС", Кафедра физики. — Москва, 2011.
=830  \\$aПеревод заголовка на белорусский язык выполнен каталогизатором.
=999  \\$g2487 NLB-NDARD$t20181113