СВОДНЫЙ ЭЛЕКТРОННЫЙ КАТАЛОГ БИБЛИОТЕК БЕЛАРУСИ | История поисков |
Базовый поиск | Расширенный поиск | Cловари | ГРНТИ | Новые поступления |
---|
Запись в MARC-формате
копировать MARC-запись |
=LDR 00000cx\\a22002173\\45\\
=001 BY-NLB-ar3167023
=005 20170125161809.5
=100 \\$a20090302arusy50\\\\\\ca0
=101 \\$arus
=102 \\$aBY
=120 \\$aba
=152 \\$apsbo$bBY-auth
=106 \\$a0
=200 \1$aЧигирь$bГ. Г.$gГригорий Григорьевич$cкандидат технических наук
=340 \\$aБелорусский специалист в области электроники. Кандидат технических наук. Сотрудник ОАО "Интеграл" (информ. на 2016 г.).
=400 \1$8rusbel$aЧыгір$bР. Р.$gРыгор Рыгоравіч$cкандыдат тэхнічных навук
=801 \0$aBY$bBY-HM0000$c20090302
=810 \\$aИзмерение глубины нарушенного слоя на поверхности кремниевых пластин методом оже-спектроскопии / В. А. Солодуха, А. И. Белоус, Г. Г. Чигирь // Наука и техника. — 2016. — Т. 15, № 4. — С. 329–334.
=810 \\$aТестовые структуры в системах управления качеством интегральных микросхем / А. И. Белоус, А. В. Емельянов, Г. Г. Чигирь. ― Минск, 2008.
=999 \\$f3398$t20090302
=999 \\$k03163 cnb-okv$t20170125
Чтобы вернуться назад, щелкните кнопку BACK на Вашем браузере
© Государственное учреждение "Национальная библиотека Беларуси", 2015-2024 © Поисковая система разработана Объединенным институтом проблем информатики НАН Беларуси |