СВОДНЫЙ ЭЛЕКТРОННЫЙ КАТАЛОГ БИБЛИОТЕК БЕЛАРУСИ	История поисков

=LDR  00000cx\\j22001813\\45\\
=001  BY-NLB-ar14367570
=005  20221214100806.9
=100  \\$a20221214abely50\\\\\\ca0
=152  \\$bDVNLB
=250  \\$aПАДЗАТВОРНЫЯ ДЫЭЛЕКТРЫКІ
=550  \\$5w$3BY-NLB-ar14367568$aПОДЗАТВОРНЫЕ ДИЭЛЕКТРИКИ
=550  \\$5g$3BY-NLB-ar2115172$aМДП-СТРУКТУРЫ
=686  \\$2rugasnti$a47
=801  \0$aBY$bBY-HM0000$c20221214
=810  \\$aВлияние быстрой термической обработки подзатворного диэлектрика на параметры микросхем временных устройств / В. А. Солодуха, В. А. Пилипенко, В. А. Горушко // Доклады Белорусского государственного университета информатики и радиоэлектроники. — 2020. — № 3. — С. 20—27.
=810  \\$aНаиболее неблагоприятные условия возникновения эффекта пробоя подзатворного диэлектрика в силовых dmosfet-транзисторах / С. Лью [и др.] // Компоненты и технологии. — 2020. — № 11. — С. 54—63.
=999  \\$f2088 NLB-NDARD$t20221214
=999  \\$i2088 NLB-NDARD$9g$t20221214