unicat.nlb.by СВОДНЫЙ ЭЛЕКТРОННЫЙ КАТАЛОГ
БИБЛИОТЕК БЕЛАРУСИ
История поисков 
Базовый поискРасширенный поискCловариГРНТИНовые поступления

Запись в MARC-формате

копировать MARC-запись

=LDR  00000cx\\a2200229\\\45\\
=001  BY-NLB-ar14188579
=005  20220311163517.3
=100  \\$a20220309abely50\\\\\\ca0
=101  \\$aeng
=102  \\$aGB
=120  \\$aba
=152  \\$apsbo$bBY-auth
=106  \\$a1
=200  \1$8beleng$7ca0yba0y$aBowen$bD. K.$gDavid Keith$fнар. 1940
=340  \\$aАнглійскі спецыяліст у галіне матэрыялазнаўства, нанатэхналогій і прыборабудавання. Супрацоўнік Цэнтра нанатэхналогій і мікраінжынерыі ва Універсітэце Уорыка (Англія; прафесар і дырэктар).
=340  \\$aТэматыка навуковых публікацый: астраномія і фізіка; крышталяграфія, інжынернае мастацтва, інжынерыя, машынабудаванне, паўправаднікі, прыборабудаванне, матэрыялазнаўства і інш.
=500  \1$5w$3BY-NLB-ar2700835$aБоуэн$bД. К.$gДэвид Кит$fрод. 1940
=801  \0$aBY$bBY-HM0000$c20220309
=810  \\$aHigh resolution x-ray diffractometry and topography / D. Keith Bowen, Brian K. Tanner. — London, 1998.
=856  4\$uhttps://royalsociety.org/people/d-keith-bowen-11120/$zСайт "Royal Society".$zДата звароту: 09.03.2022.
=856  4\$uhttp://viaf.org/$zБД "VIAF".$zВіртуальны міжнародны аўтарытэтны файл.$zДата звароту: 09.03.2022.
=999  \\$f716 NLB-NDARD$t20220309

Чтобы вернуться назад, щелкните кнопку BACK на Вашем браузере