| № | Дата |
Автор |
Заглавие |
|---|
|
2018 |
Свечников, Михаил Владимирович |
Диагностика внутреннего строения многослойных рентгеновских зеркал по данным рефлектометрии в рамках расширенной модели : автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук : специальность 01.04.01 Приборы и методы экспериментальной физики / Свечников Михаил Владимирович ; [Институт физики микроструктур РАН филиал Института прикладной физики РАН] |
|
2015 |
Репченко, Юрий Леонидович |
Моделирование резонансных явлений вблизи краев поглощения в условиях отражения рентгеновского синхротронного излучения от многослойных структур : автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук : специальности 01.04.07 Физика конденсированного состояния, 05.13.18 Математическое моделирование, численные методы и комплексы программ / Репченко Юрий Леонидович ; [Воронежский государственный университет, Московский государственный университет им. М. В. Ломоносова] |
|
2015 |
Волков, Юрий Олегович |
Диагностика поверхностей твердотельных и комплексных жидкофазных систем методами рентгеновской рефлектометрии и диффузного рассеяния в условиях скользящего падения излучения : автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук : специальность 01.04.07 Физика конденсированного состояния / Волков Юрий Олегович ; [Институт кристаллографии им. Шубникова РАН] |
|
2018 |
Пономарев, Дмитрий Андреевич |
Модельно-независимый метод определения локального атомного строения с разрешением по глубине в многослойных металлических наногетероструктурах с низкой контрастностью : автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук : специальность 01.04.07 Физика конденсированного состояния / Пономарев Дмитрий Андреевич ; [Институт физики металлов им. М. Н. Михеева Уральского отделения РАН] |
|
2004 |
Минкевич, Андрей Альбертович (кандидат физико-математических наук) |
Новые методы теоретического анализа спекторов рентгеновской рефлектометрии и дифрактометрии наноструктур : дис.... канд. физ.-мат. наук / Минкевич Андрей Альбертович ; Бел. гос. ун-т |
|
2011 |
Одинцова, Екатерина Евгеньевна |
Резонансные эффекты вблизи краев поглощения рентгеновского излучения при отражении от многослойных структур : автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук : 01.04.07 / Одинцова Екатерина Евгеньевна ; Московский государственный университет им. М. В. Ломоносова |
|
2013 |
Кожевников, Игорь Викторович |
Теория дифракции рентгеновского излучения от неоднородных слоистых сред : автореферат диссертации на соискание ученой степени доктора физико-математических наук : специальность 01.04.07 Физика конденсированного состояния / Кожевников Игорь Викторович ; [Институт кристаллографии им. А. В. Шубникова Российской академии наук] |
|
2006 |
Феранчук, Сергей Ильич (род. 1968) |
Учет корреляционных эффектов при рассеянии рентгеновского излучения : дис.... канд. физ.-мат. наук / Феранчук Сергей Ильич ; Бел. гос. ун-т |
|
2002 |
Багрец, Надежда Владимировна |
Теория зеркального отражения рентгеновских лучей от неидеальных многослойных наноструктур и ее применение в рефлектометрии сверхрешеток Fe/Cr : Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. физ.-мат. наук : 01.04.07 / Багрец Надежда Владимировна ; [Ин-т физики металлов УрО РАН] |
|
2014 |
Карташов, Дмитрий Александрович (кандидат технических наук) |
Методы экспрессной обработки результатов относительной двухволновой рентгеновской рефлектометрии для контроля многослойных структур микро- и наноэлектроники : автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата технических наук : специальность 05.11.13 Приборы и методы контроля природной среды, веществ, материалов и изделий / Карташов Дмитрий Александрович ; [Национальный исследовательский университет "МИЭТ"] |
СВОДНЫЙ ЭЛЕКТРОННЫЙ КАТАЛОГ