| № | Дата |
Автор |
Заглавие |
|---|
|
1999 |
Рыков, Сергей Александрович |
Низкотемпературная туннельная спектроскопия и сканирующая туннельная микроскопия халькогенидов свинца : Автореф. дис. на соиск. учен. степ. д-ра физ.-мат. наук : 01.04.10 ; 05.27.01 / С.-Петерб. гос. техн. ун-т |
|
2006 |
Утас, Татьяна Валерьевна (кандидат физико-математических наук) |
Количественный анализ атомной структуры поверхностных фаз с помощью сканирующей туннельной микроскопии : автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук : 01.04.07 / Утас Татьяна Валерьевна ; [Институт автоматики и процессов управления ДВО РАН] |
|
2008 |
Кобаяси Наоя |
Введение в нанотехнологию / Н. Кобаяси ; перевод с японского А. В. Хачояна ; под редакцией Л. Н. Патрикеева |
|
2009 |
Стрючкова, Юлия Михайловна (кандидат химических наук) |
Наносвойства поверхностей сплавов железо-хром-никель и их основных компонентов по in-situ измерениям на электрохимическом сканирующем туннельном микроскопе : автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата химических наук : 02.00.05 / Стрючкова Юлия Михайловна ; [Федеральное государственное унитарное предприятие "Научно-исследовательский физико-химический институт им. Л. Я. Карпова"] |
|
2013 |
Филатов, Дмитрий Олегович (кандидат физико-математических наук ; род. 1969) |
Туннельная атомно-силовая микроскопия твердотельных наноструктур : автореферат диссертации на соискание ученой степени доктора физико-математических наук : специальность 05.27.01 Твердотельная электроника, радиоэлектронные компоненты, микро- и наноэлектроника, приборы на квантовых эффектах / Филатов Дмитрий Олегович ; [Нижегородский государственный университет им. Н. И. Лобачевского] |
|
2005 |
Иванов, Дмитрий Юрьевич |
Особенности проводимости двумерных туннельных структур с сильными рассеивателями : автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук : 05.27.01 / Иванов Дмитрий Юрьевич ; Российская академия наук, Институт проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов |
|
2006 |
Утас, Олег Александрович (кандидат физико-математических наук) |
Поверхностные структуры в системах Be/Si(111), Cr/Si(111), Si/SiO2/Si(100) и электрическая проводимость поверхностных фаз : автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук : 01.04.07 / Утас Олег Александрович ; [Институт автоматики и процессов управления ДВО РАН] |
|
2006 |
Гудцов, Денис Вячеславович |
Разработка и исследование интеллектуального цифрового туннельного микроскопа для изучения кластерных материалов : автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата технических наук : 05.11.13 ; 05.11.14 / Гудцов Денис Вячеславович ; [Институт прикладной механики УрО РАН] |
|
1992 |
Еловиков, Сергей Сергеевич |
Электронная спектроскопия поверхности и тонких пленок / МГУ им.М.В.Ломоносова,Физ.фак |
|
2008 |
Шелковников, Евгений Юрьевич |
Теория и практика измерений геометрических параметров ультрадисперсных частиц кластерных материалов сканирующим туннельным микроскопом / Е. Ю. Шелковников ; Институт прикладной механики Уральского отделения Российской академии наук |
|
2008 |
Шелковников, Евгений Юрьевич |
Программно-аппаратные средства и алгоритмическая коррекция погрешностей измерений геометрических параметров наночастиц сканирующим туннельным микроскопом : автореферат диссертации на соискание ученой степени доктора технических наук : 05.11.16 / Шелковников Евгений Юрьевич ; [Институт прикладной механики УрО РАН, ГОУ ВПО "Ижевский государственный технический университет"] |
|
2005 |
Неволин, Владимир Кириллович (доктор физико-математических наук ; род. 1941) |
Зондовые нанотехнологии в электронике / В. Неволин |
|
2008 |
Гуркин, Николай Владимирович |
Исследование задачи повышения разрешающей способности и чувствительности устройств зондовой микроскопии применительно к диагностике наноматериалов : автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата технических наук : 05.11.13 / Гуркин Николай Владимирович ; [Московский государственный технический университет им. Н. Э. Баумана] |
|
2009 |
Юров, Владимир Юрьевич |
Сканирующая туннельная микроскопия и спектроскопия наноструктур на поверхности монокристалла меди : автореферат диссертации на соискание ученой степени доктора физико-математических наук : 01.04.07 / Юров Владимир Юрьевич ; Учреждение Российской академии наук Институт общей физики им. А. М. Прохорова РАН |
|
2021 |
Величко, Елена Николаевна (кандидат технических наук ; род. 1982) |
Гибридная биомолекулярная электроника : монография / Е. Н. Величко, О. Ю. Цыбин ; Министерство науки и высшего образования Российской Федерации, Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого |
|
2006 |
Коноваленко, Константин Борисович |
Исследование ВТСП YBCO пленок с замороженными напряжениями : автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук : 01.04.07 / Коноваленко Константин Борисович ; [Омский государственный университет им. Ф.М.Достоевского] |
|
2011 |
Забенков, Игорь Владимирович |
Люминесцентные характеристики образцов, содержащих наночастицы CdS : автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук : 01.04.05 / Забенков Игорь Владимирович ; [ГОУ ВПО "Саратовский государственный университет им. Н. Г. Чернышевского"] |
|
2009 |
Рубцов, Алексей Николаевич (кандидат физико-математических наук) |
Методы реалистического описания систем с сильными корреляциями и нелокальностью : автореферат диссертации на соискание ученой степени доктора физико-математических наук : 01.04.09 / Рубцов Алексей Николаевич ; Московский государственный университет им. М. В. Ломоносова |
|
2009 |
Соколов, Игорь Викторович |
Закономерности формирования структуры в поверхностном слое деталей из конструкционных металлических материалов в процессе вакуумной ионно-плазменной обработки : автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата технических наук : 05.16.06 / Соколов Игорь Викторович ; [ГОУ ВПО "МАТИ" Российский государственный технологический университет им. К. Э. Циолковского, ОАО "НИАТ" – Национальный институт авиационных технологий] |
|
2017 |
Липанов, Святослав Иванович |
Математические модели, программно-аппаратные и технологические средства для контроля и классификации изображений наноструктур в туннельном микроскопе : автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата технических наук : специальности 05.11.13 Приборы и методы контроля природной среды, веществ, материалов и изделий, 05.11.14 Технология приборостроения / Липанов Святослав Иванович ; [Институт механики УрО РАН] |
СВОДНЫЙ ЭЛЕКТРОННЫЙ КАТАЛОГ