
СВОДНЫЙ ЭЛЕКТРОННЫЙ КАТАЛОГ БИБЛИОТЕК БЕЛАРУСИ	История поисков Справка

Базовый поиск	Расширенный поиск	Cловари	ГРНТИ	Новые поступления	Профессионалам Поиск Экспорт данных/ Z39.50 Belmarc Методические решения

Запрос: a001="BY-SEK-ar14143444"
Записи: 1 - 1 из 1 (стр. 1 из 1)

Сортировать по:

№	Дата	Автор	Заглавие
	2009	Заблоцкий, Алексей Васильевич	Особенности измерений линейных размеров субмикронных структур методом растровой электронной микроскопии : автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук : 01.04.04 / Заблоцкий Алексей Васильевич ; Федеральное агентство по образованию Российской Федерации Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Московский физико-технический институт (государственный университет)"

Служба технической поддержки:
+375 17 293 29 78
skk@nlb.by
© Государственное учреждение "Национальная библиотека Беларуси", 2015-2024
© Поисковая система разработана Объединенным институтом проблем информатики НАН Беларуси