
СВОДНЫЙ ЭЛЕКТРОННЫЙ КАТАЛОГ БИБЛИОТЕК БЕЛАРУСИ	История поисков Справка

Базовый поиск	Расширенный поиск	Cловари	ГРНТИ	Новые поступления	Профессионалам Поиск Экспорт данных/ Z39.50 Belmarc Методические решения

Запрос: a001="BY-SEK-334349"
Записи: 1 - 6 из 6 (стр. 1 из 1)

Сортировать по:

№	Дата	Автор	Заглавие
	1994		Тонкие пленки в электронике : Материалы V Междунар. науч.-техн. конф., [15-19 авг. 1998 г., г. Йошкар-Ола] / Отв. науч. ред. А.Ф.Белянин
	2002		Высокие технологии в промышленности России = High technology in Russian industry : Материалы VIII Междунар. науч.-техн. конф. (Москва, ОАО ЦНИТИ "Техномаш", 2002, 11-13 сент.) / Под ред. А.Ф.Белянина и др
	2003		Высокие технологии в промышленности России = High technology in Russian industry : Моногр. сб. на основе пленар. докл. IX Междунар. науч.-техн. конф. (Москва, ОАО ЦНИТИ "Техномаш", 2003, 11-13 сент.) / Под ред. А.Ф.Белянина, М.И.Самойловича
	2004		Высокие технологии в промышленности России = High technology in Russian industry : материалы и устройства функциональной электроники и микрофотоники : материалы X Международной научно-технической конференции (Москва, ОАО ЦНИТИ "Техмаш", 2004, 9-11 сентября). Тонкие пленки в электронике = Thin films in electronics : материалы XVI Международного симпозиума (Москва, ОАО ЦНИТИ "Техномаш", 2004, 9-11 сентября) / под редакцией А.Ф.Белянина, М.И.Самойловича
	2006		Наноматериалы : монография на основе расширенных пленарных докладов XII Международной научно-технической конференции (Москва, 2006, 7 - 9 сентября) / Открытое акционерное общество Центральный научно-исследовательский технологчиеский институт "Техномаш"
	2003		Высокие технологии в промышленности России = High technology in russian industry : Материалы и устройства электрон. техники : Материалы IX Междунар. науч.-техн. конф. (Москва, ОАО ЦНИТИ "Техномаш", 2003, 11-13 сент.) / Под ред. А.Ф.Белянина и др

Служба технической поддержки:
+375 17 293 29 78
skk@nlb.by
© Государственное учреждение "Национальная библиотека Беларуси", 2015-2024
© Поисковая система разработана Объединенным институтом проблем информатики НАН Беларуси