| № | Дата |
Автор |
Заглавие |
|---|
|
2005 |
Шиляев, Павел Анатольевич |
Фрактальный анализ поверхности слоев кремния, выращенных методом молекулярно-лучевого осаждения : автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук : 01.04.07 / Шиляев Павел Анатольевич ; [Нижегородский государственный университет им. Н.И.Лобачевского] |
|
2004 |
Белорусский семинар по сканирующей зондовой микроскопии (6 ; 2004 ; Минск) |
6-й Белорусский семинар по сканирующей зондовой микроскопии : БелСЗМ-6 : Сб. докл., Минск, [12-15 окт.] 2004 г. / Редкол.: А.И.Свириденок и др. ; 2004 ; Минск |
|
2006 |
Синдо, Дайзуке |
Аналитическая просвечивающая электронная микроскопия / Д. Синдо, Т. Оикава ; перевод с английского С. А. Иванова |
|
2006 |
Грибков, Борис Александрович |
Сканирующая зондовая микроскопия поверхностной шероховатости и магнитных наноструктур : автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук : 01.04.01 / Грибков Борис Александрович ; Институт физики микроструктур РАН |
|
2004 |
Волков, Юрий Петрович |
Многофункциональная информационно-измерительная система сканирующей зондовой микроскопии атомарного разрешения (туннельной, атомно-силовой, оптической ближнего поля) : автореферат диссертации на соискание ученой степени доктора технических наук : 05.11.16 ; 05.27.01 / Волков Юрий Петрович ; [Саратовский государственный технический университет] |
|
2004 |
Миронов, Виктор Леонидович (доктор физико-математических наук ; род. 1959) |
Основы сканирующей зондовой микроскопии : учебное пособие для старших курсов высших учебных заведений / В. Миронов ; Российская академия наук, Институт физики микроструктур (г. Нижний Новгород) |
|
2006 |
|
Методологические аспекты сканирующей зондовой микроскопии : VII Международный семинар, 1-3 ноября 2006 г., Минск, Беларусь : сборник докладов / [редколлегия: А. И. Свириденок и др.] |
|
2006 |
Сабирзянов, Наиль Ринатович (кандидат технических наук ; род. 1979) |
Разработка криовакуумного обеспечения нанотехнологических установок : автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата технических наук : 05.04.03 / Сабирзянов Наиль Ринатович ; [Московский энергетический институт] |
|
2000 |
Трифонов, Артем Сергеевич |
Исследование туннельных эффектов в наноструктурах методами сканирующей зондовой микроскопии : Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. физ.-мат. наук : 01.04.04 / Трифонов Артем Сергеевич ; Моск. гос. ун-т им. М.В.Ломоносова, Науч.-исслед. ин-т ядер. физики им. Д.В.Скобельцына |
|
2004 |
Востоков, Николай Владимирович (кандидат физико-математических наук ; род. 1970) |
Исследование полупроводниковых наноструктур с массивами квантовых точек и металлических нанокластеров методами сканирующей зондовой микроскопии : автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук : 05.27.01 / Востоков Николай Владимирович ; [Институт физики микроструктур Российской академии наук] |
|
2005 |
Сеннов, Руслан Александрович |
Развитие методов микротомографии и определение средней энергии электронов, отраженных от многослойных микроструктур : автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук : 05.27.01 / Сеннов Руслан Александрович ; [Институт проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов РАН] |
СВОДНЫЙ ЭЛЕКТРОННЫЙ КАТАЛОГ