unicat.nlb.by СВОДНЫЙ ЭЛЕКТРОННЫЙ КАТАЛОГ
БИБЛИОТЕК БЕЛАРУСИ
История поисков Справка
 
Базовый поискРасширенный поискCловариГРНТИНовые поступления

   Запрос: a001="BY-NLB-ar6698002"
   Записи: 1 - 7 из 7 (стр. 1 из 1)

Сортировать по: 
Дата Автор Заглавие
1998 Ермаков, Алексей Викторович Исследование механизмов создания наноструктур на поверхности твнрдого тела с помощью сканирующего туннельного микроскопа и микроскопа атомных сил : Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. физ.-мат. наук : 01.04.07 / C.-Петерб. гос. ун-т
2018 Антонов, Александр Сергеевич Морфологические характеристики и фрактальный анализ металлических пленок на диэлектрических поверхностях : автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук : специальность 01.04.07 Физика конденсированного состояния / Антонов Александр Сергеевич ; [Тверской государственный университет]
2019 Сдобняков, Николай Юрьевич (кандидат физико-математических наук ; род. 1977) Морфологические характеристики и фрактальный анализ металлических пленок на диэлектрических поверхностях : монография / Сдобняков Н. Ю., Антонов А. С., Иванов Д. В. ; Министерство науки и высшего образования Российской Федерации, Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Тверской государственный университет"
1998 Дроздов, Андрей Вячеславович Изучения физических процессов, протекающих при модификации поверхности металла импульсом напряжения в сканирующем туннельном микроскопе : Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. физ.-мат. наук : 01.04.07 / С.-Петерб. гос. ун-т, НИИ физики
1993 Альтфедер, Игорь Борисович СТМ-исследования высокотемпературных сверхпроводников : Автореф.дис.на соиск.учен.степ.канд.физ.-мат.наук:(01.04.09) / Рос.АН,Ин-т физич.пробл.им.П.Л.Капицы
2012 Finkler, Amit Scanning SQUID microscope for studying vortex matter in type-II superconductors : doctoral thesis accepted by the Weizmann Institute of Science, Rehovot, Israel / Amit Finkler
2017 Липанов, Святослав Иванович Математические модели, программно-аппаратные и технологические средства для контроля и классификации изображений наноструктур в туннельном микроскопе : автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата технических наук : специальности 05.11.13 Приборы и методы контроля природной среды, веществ, материалов и изделий, 05.11.14 Технология приборостроения / Липанов Святослав Иванович ; [Институт механики УрО РАН]
Записей на стр.