| № | Дата |
Автор |
Заглавие |
|---|
|
1998 |
Резвый, Ростислав Ростиславович |
Исследование методом эллипсометрии диэлектрических и полупроводниковых структур микроэлектроники : Автореф. дис. на соиск. учен. степ. д-ра техн. наук : 01.04.10 / Гос унитар. предприятие "Науч.-произв. предприятие "Пульсар"", Акционер. об-во открыт. типа "НИИ микроэлектроники и нанотехнологии "Дельта"" |
|
1979 |
Миронов, Федор Семенович (кандидат физико-математических наук) |
Эллипсометрический метод исследования анизотропных систем на основе обобщенных измерительных зон : автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук : специальность 01.04.05 Оптика / Миронов Федор Семенович ; Институт физики АН БССР |
|
1986 |
Тиханович, Сергей Александрович (дефектоскопия) |
Контроль плотности сверхлегких диэлектрических материалов методами радиоволновой эллипсометрии : Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. техн. наук : 05.11.13 / Акад. наук Бел. ССР, Ин-т прикладной физики |
|
1992 |
Старовойтов, Леонид Евгеньевич (кандидат физико-математических наук ; род. 1954) |
Исследование оптической неоднородности планарных полимерных систем методами отражения : автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук : 01.04.05 / Старовойтов Леонид Евгеньевич ; Академия наук Беларуси, Институт физики им. Б. И. Степанова |
|
2009 |
Секарин, Константин Геннадьевич |
Исследование физико-технических характеристик неоднородных сред поляризационно-оптическими методами : автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата технических наук : 05.11.07 / Секарин Константин Геннадьевич ; Министерство образования и науки Российской Федерации, Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Санкт-Петербургский государственный университет информационных технологий, механики и оптики" |
|
2010 |
Швец, Василий Александрович (доктор физико-математических наук ; род. 1953) |
Эллипсометрия процессов молекулярно-лучевой эпитаксии Cd1-x HgхTe : автореферат диссертации на соискание ученой степени доктора физико-математических наук : 01.04.01 / Швец Василий Александрович ; [Учреждение Российской академия наук Институт физики полупроводников им. А. В. Ржанова Сибирского отделения РАН] |
|
2018 |
Тихий, Александр Александрович |
Оптические и резистивные свойства нестехиометрических магнитных пленок на основе манганит-лантановых соединений : автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук : специальность 01.04.07 Физика конденсированного состояния / Тихий Александр Александрович ; Министерство образования и науки Донецкой Народной Республики, Государственное учреждение "Донецкий физико-технический институт им. А. А. Галкина", Министерство образования и науки Луганской Народной Республики, Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Луганский национальный университет им. Тараса Шевченко" |
|
2019 |
Нгуен Тхи Ханг |
Тонкие пленки халькогенидных полупроводниковых соединений, полученные методом спин-коатинга : автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук : специальность 04.01.07 Физика конденсированного состояния / Нгуен Тхи Ханг ; [Московский педагогический государственный университет] |
|
2000 |
Уймин, Анатолий Александрович |
Измерение теплофизических свойств материалов методом лазерной термомодуляционной эллипсометрии : Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. физ.-мат. наук : 01.04.01 / Уймин Анатолий Александрович ; [Ин-т теплофизики УрО РАН, Урал. гос. горно-геол. акад.] |
|
2011 |
Данилова, Татьяна Михайловна |
Эллипсометрические и спектрофотометрические методы исследования и контроля оптических характеристик поверхностных слоев элементов оптотехники : автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата технических наук : специальность 05.11.07 Оптические и оптико-электронные приборы и комплексы / Данилова Татьяна Михайловна ; Министерства финансов Российской Федерации, Санкт-Петербургский национальный исследовательский универсиет информационных технологий, механики и оптики |
|
1986 |
Пшеницын, Владимир Ильич |
Эллипсометрия в физико-химических исследованиях / В. И. Пшеницын, М. И. Абаев, Н. Ю. Лызлов |
|
2008 |
Новиков, Александр Александрович |
Эллипсометрия поверхностных слоев элементов оптоэлектроники, модифицированных ионными и электронными пучками : автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата технических наук : 05.11.07 / Новиков Александр Александрович ; Министерство образования и науки Российской Федерации, Санкт-Петербургский государственный университет информационных технологий, механики и оптики |
|
1985 |
Конев, Владимир Афанасьевич (доктор технических наук ; род. 1940) |
Радиоволновая эллипсометрия / В. А. Конев, Е. М. Кулешов, Н. Н. Пунько ; под редакцией И. С. Ковалева ; Академия наук Белорусской ССР, Институт прикладной физики |
|
2009 |
Свиташева, Светлана Николаевна (кандидат физико-математических наук, физик) |
Эллипсометрия шероховатых поврехностей : автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук : 01.04.07 / Свиташева Светлана Николаевна ; [Институт физики полупроводников им. А. В. Ржанова Сибирского отделения Российской Академии наук] |
|
2008 |
Скалецкая, Ирина Евгеньевна (кандидат технических наук) |
Методы и средства поляризационно-оптической диагностики в наноматериаловедении : автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата технических наук : 05.11.07 / Скалецкая Ирина Евгеньевна ; Министерство образования и науки Российской Федерации, Федеральное агентство по образованию, Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Санкт-Петербургский государственный университет информационных технологий, механики и оптики" |
|
1997 |
Гончеренок, Игорь Иванович |
Нелинейная фотоанизотропия изотропных резонансных сред и ее спектроскопические приложения : Дис.... д-ра физ.-мат.наук ; Бел.гос.ун-т |
|
2009 |
Гетманский, Андрей Александрович |
Исследование приповерхностного слоя магнитной жидкости вблизи металлического и полупроводникового электродов по оптическим и электрофизическим измерениям : автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук : 01.04.13 / Гетманский Андрей Александрович ; [ГОУ ВПО "Ставропольский государственный университет"] |
|
2011 |
Ковалев, Виталий Иванович (приборы и методы экспериментальной физики) |
Методы и приборы лазерной и спектральной эллипсометрии с бинарной модуляцией состояния поляризации : автореферат диссертации на соискание ученой степени доктора технических наук : 01.04.01 / Ковалев Виталий Иванович ; [Институт радиотехники и электроники им. В. А. Котельникова] |
|
1988 |
|
Коррозия и защита от коррозии / Государственный комитет СССР по науке и технике, Академия наук СССР, Всесоюзный институт научной и технической информации (ВИНИТИ). — Т. 14 / научный редактор Я. М. Колотыркин |
|
2013 |
Али Мохаммед |
Холоэллипсометры — средства мониторинга в реальном времени поверхности анизотропных нанокристаллов в квазинормально рассеянном и отраженном свете : автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата технических наук : специальность 05.11.07 Оптические и оптико-электронные приборы и комплексы / Али Мохаммед ; [Московский государственный технический университет им. Н. Э. Баумана] |
СВОДНЫЙ ЭЛЕКТРОННЫЙ КАТАЛОГ