| № | Дата |
Автор |
Заглавие |
|---|
|
1993 |
Игнатьев, Александр Сергеевич |
Электронная Оже-спектроскопия для исследования и контроля технологии СБИС : Автореф.дис.на соиск.учен.степ.д-ра физ.-мат.наук:(01.04.10) / Моск.ин-т электрон.техники |
|
2008 |
Чистотин, Игорь Андреевич |
Спектроскопия упругого отражения электронов как метод диагностики поверхности твердого тела : автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук : 01.04.07 ; 01.04.04 / Чистотин Игорь Андреевич ; [Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Российский государственный педагогический университет им. А. И. Герцена"] |
|
2019 |
Капустин, Владимир Иванович (доктор физико-математических наук ; род. 1948) |
Технология производства и контроль качества наноматериалов и наноструктур : учебное пособие : для обучающихся по образовательным программам высшего образования уровня бакалавриат и магистратура по направлению подготовки "Электроника и наноэлектроника" / В. И. Капустин, А. С. Сигов ; Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "МИРЭА — Российский технологический университет" |
|
2009 |
Абдувайитов, Акбаржон Абдумажидович |
Исследование ориентационной зависимости эмиссии Оже-электронов с поврехности различных материалов методами ионной и электронной Оже спектроскопии : автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук : 01.04.04 / Абдувайитов Акбаржон Абдумажидович ; Академия наук Республики Узбкистан, Институт электроники им. У. А. Арифова |
|
2009 |
Сидашов, Андрей Вячеславович (кандидат физико-математических наук) |
Сегрегационные процессы и состав поверхности некоторых сплавов и сталей в кислородной среде по рентгено- и оже-электронным данным : автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук : 01.04.07 / Сидашов Андрей Вячеславович ; [Ростовский государственный университет путей сообщения, Научно-исследовательский институт физики Южного федерального университета и РГУПС] |
|
1994 |
Петренко, Альбина Зинуровна |
Программное обеспечение для оже-электронной спектроскопии. Программа PROFILE v. 1.01 |
|
1981 |
Карлсон, Томас А. |
Фотоэлектронная и Оже-спектроскопия : перевод с английского / Томас А. Карлсон |
|
2012 |
Колос, Владимир Владимирович (кандидат физико-математических наук) |
Формирование слоев силицидов титана методом быстрой термической обработки системы TiN / Ti / Si в технологии интегральных микросхем : диссертация на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук : специальность 01.04.07 Физика конденсированного состояния / Колос Владимир Владимирович ; научный руководитель Маркевич М. И. ; Белорусский государственный университет, Открытое акционерное общество "ИНТЕГРАЛ" |
|
2009 |
Елизаров, Андрей Юрьевич |
Метод поляризационной лазерной спектроскопии для исследования автоионизационных состояний атомов и молекул : автореферат диссертации на соискание ученой степени доктора физико-математических наук : 01.04.01 / Елизаров Андрей Юрьевич ; [Физико-технический институт им. А. Ф. Иоффе РАН] |
|
2010 |
Устинов, Александр Борисович |
Определение спиновой структуры тонких металлических пленок методом спин-поляризационной электронной оже-спектроскопии : автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук : 01.04.04 / Устинов Александр Борисович ; [Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Санкт-Петербургский государственный политехнический университет"] |
|
2011 |
Адамчук, Дмитрий Вячеславович (кандидат физико-математических наук) |
Технология создания структур, обладающих свойствами светочувствительности и регистрации потоков ионизирующих излучений / Д. В. Адамчук, И. В. Зубец, В. С. Костко |
|
2012 |
Колос, Владимир Владимирович (кандидат физико-математических наук) |
Формирование слоев силицидов титана методом быстрой термической обработки системы TiN / Ti / Si в технологии интегральных микросхем : автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук : специальность 01.04.07 Физика конденсированного состояния / Колос Владимир Владимирович ; Белорусский государственный университет |
|
2012 |
Альфорд, Терри Л. (материаловедение) |
Фундаментальные основы анализа нанопленок / Терри Л. Альфорд, Леонард К. Фельдман, Джеймс В. Майер ; перевод с английского: А. Н. Образцов, М. А. Долганов ; научное редактирование русского издания: А. Н. Образцов |
|
2023 |
Дронова, Дарья Алексеевна |
Комплекс методик анализа профильного распределения химического состава по глубине нанообъектов и тонких пленок методами оже-спектроскопии и времяпролетной вторично-ионной масс-спектрометрии : автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата технических наук : специальность 2.6.6 Нанотехнологии и наноматериалы / Дронова Дарья Алексеевна ; [место защиты: Национальный исследовательский технологический университет "МИЭТ"] |
|
1996 |
Тронева, Н. В. |
Электронно-зондовый микроанализ неоднородных поверхностей в свете теории распознавания образов |
|
2015 |
Тарабрин, Дмитрий Юрьевич (кандидат технических наук) |
Разработка систем комбинированного анализа поверхности твердого тела методами электронной оже-спектроскопии и масс-спектрометрии вторичных ионов : автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата технических наук : специальность 05.27.02 Вакуумная и плазменная электроника / Тарабрин Дмитрий Юрьевич ; [Рязанский государственный радиотехнический университет] |
СВОДНЫЙ ЭЛЕКТРОННЫЙ КАТАЛОГ