
СВОДНЫЙ ЭЛЕКТРОННЫЙ КАТАЛОГ БИБЛИОТЕК БЕЛАРУСИ	История поисков Справка

Базовый поиск	Расширенный поиск	Cловари	ГРНТИ	Новые поступления	Профессионалам Поиск Экспорт данных/ Z39.50 Belmarc Методические решения

Запрос: a001="BY-NLB-ar3167023"
Записи: 1 - 5 из 5 (стр. 1 из 1)

Сортировать по:

Дата	Автор	Заглавие
2008	Белоус, Анатолий Иванович (доктор технических наук ; род. 1951)	Тестовые структуры в системах управления качеством интегральных микросхем / А. И. Белоус, А. В. Емельянов, Г. Г. Чигирь
2002	Анищик, Виктор Михайлович (доктор физико-математических наук ; род. 1945)	Физические основы быстрой термообработки : Отжиг поликристаллич.кремния,диэлектрич.пленок,очистка поверхности и эпитаксия: [Моногр.]
2013		Базовые технологические процессы изготовления полупроводниковых приборов и интегральных микросхем на кремнии : [монография] : в 3 т. / [О. Ю. Наливайко и др.] ; под редакцией А. С. Турцевича
2002		Физические основы быстрой термообработки : Отжиг поликристаллического кремния, диэлектрических пленок, очистка поверхности и эпитаксия / В. М. Анищик [и др.]
2011		Методы повышения надежности микросхем на основе тестовых структур / А. И. Белоус [и др.] ; Министерство образования Республики Беларусь, Учреждение образования "Гомельский государственный университет им. Ф. Скорины"

Служба технической поддержки:
+375 17 293 29 78
skk@nlb.by
© Государственное учреждение "Национальная библиотека Беларуси", 2015-2024
© Поисковая система разработана Объединенным институтом проблем информатики НАН Беларуси