| № | Дата |
Автор |
Заглавие |
|---|
|
1999 |
Чиркин, Сергей Александрович |
Исследование работоспособности быстрорежущего инструмента при направленной микродозированной подаче СОТС в зону контакта : Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. техн. наук : 05.03.01 / Иван. гос. ун-т |
|
2004 |
Ежов, Анатолий Александрович |
Разрушение металлов / А.А.Ежов, Л.П.Герасимова ; Рос. акад. наук, Ин-т физ.-хим. проблем керам. материалов |
|
2007 |
Кларк, Эшли Р. |
Микроскопические методы исследования материалов / Э. Р. Кларк, К. Н. Эберхардт ; перевод с английского С. Л. Баженова ; Российская академия наук, Институт синтетических полимерных материалов им. Н. С. Ениколопова |
|
2002 |
Щука, Александр Александрович (доктор технических наук ; кандидат физико-математических наук ; род. 1940) |
Вакуумная электроника : Учеб. пособие для вузов / А.А.Щука |
|
2001 |
|
Методы стереомикроскопии в геологии : Практ.пособие / А.А.Ковалев,В.П.Клементьев,Л.В.Штефан и др.;Под ред.В.Н.Губина |
|
1980 |
Фрайштат, Д. М. |
Реактивы и препараты для микроскопии : справочник / Д.М. Фрайштат |
|
2007 |
Егорова, Ольга Владимировна (кандидат технических наук) |
Техническая микроскопия : практика работы с микроскопами для техн. целей / О. Егорова |
|
2000 |
Крымский, Кирилл Михайлович |
Оптимизированные оптические системы и отражающие покрытия для мягкого рентгеновского диапазона длин волн : Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. физ.-мат. наук : 01.04.04 / Крымский Кирилл Михайлович ; [Моск. физ.-техн. ин-т (гос. ун-т)] |
|
2006 |
Минаев, Владимир Леонидович |
Интерференционные методы измерения интегральных и локальных параметров фазовых микрообъектов : автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата технических наук : 01.04.05 / Минаев Владимир Леонидович ; [Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений] |
|
2007 |
Медведева, Елена Валерьевна |
Полевая ионная микроскопия ГЦК-металлов после интенсивных внешних воздействий : автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук : 01.04.07 / Медведева Елена Валерьевна ; Российская академия наук, Уральское отделение, Институт электрофизики |
|
1984 |
|
Иммунная электронная микроскопия : Библиогр. указ. отечеств. и зарубеж. лит. за 1972-1984 гг. / Ленингр. науч.-исслед. ин-т эпидемиологии и микробиологии им. Пастера ; Сост. Н.А.Чайка |
|
2002 |
Сороко, Лев Маркович (доктор физико-математических наук, физик ; 1923—2009) |
3D inspection by conical wavefronts / L.M.Soroko |
|
1998 |
Белорусский семинар по сканирующей зондовой микроскопии (3 ; 1998 ; Гродно) |
Третий Белорусский семинар по сканирующей зондовой микроскопии, Гродно, 8-9 окт. 1998 г. = Third Belarussian seminar on scanning probe microscopy : Сб. докл. / Редкол.: А.И.Свириденок и др |
|
2002 |
Белорусский семинар по сканирующей зондовой микроскопии (5 ; 2002 ; Минск) |
5-й Белорусский семинар по сканирующей зондовой микроскопии, 7-8 октября 2002 г., Минск : Программа, сб. докл |
|
2007 |
Кларк, Э. Р. |
Микроскопические методы исследования материалов : пер. с англ. / Э. Р. Кларк, К. Н. Эберхардт |
|
1999 |
Tonomura, Akira |
Electron holography |
|
2004 |
|
NMR. 3D analysis. Photopolymerization / With contributions by N.Fatkullin et al |
|
2011 |
Свищева, Тамара Яковлевна (химик-технолог ; род. 1938) |
Диагностическая микроскопия : световая, темнопольная, фазово-контрастная, растрово-электронная, электронная, люминесцентная / Т. Я. Свищёва |
|
2011 |
|
Справочник по микроскопии для нанотехнологии : перевод с английского языка / под редакцией [и с предисловием] Нан Яо, Чжун Лин Ван ; научный редактор русского издания [и предисловия] И. В. Яминский |
|
2015 |
|
Контроль качества. Диагностика. Испытания : каталог продукции / ООО "НДТ Инжиниринг" |
СВОДНЫЙ ЭЛЕКТРОННЫЙ КАТАЛОГ