| № | Дата |
Автор |
Заглавие |
|---|
|
2001 |
Сороко, Лев Маркович (доктор физико-математических наук, физик ; 1923—2009) |
Imaging of the vertical particle tracks without any depth scanning / L.M.Soroko |
|
1997 |
|
Der letzte Schliff : 150 Jahre Arbeit und Alltag bei Carl Zeiss : Begleitband zur Ausstellung "Der letzte Schliff. 150 Jahre Arbeit und Alltag bei Carl Zeiss", November 1997 bis Januar 1998 in Jena und weiteren Stationen / Herausgeber: Frank Markowski |
|
2006 |
Синдо, Дайзуке |
Аналитическая просвечивающая электронная микроскопия / Д. Синдо, Т. Оикава ; перевод с английского С. А. Иванова |
|
2022 |
|
Regula [Выяўленчы матэрыял] : 1992―2023 : [2023 : настольны перакідны каляндар] / Regula |
|
2022 |
|
Regula [Выяўленчы матэрыял] : 1992―2023 : [2023 : настольны перакідны каляндар] / Regula |
|
2006 |
Минаев, Владимир Леонидович |
Интерференционные методы измерения интегральных и локальных параметров фазовых микрообъектов : автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата технических наук : 01.04.05 / Минаев Владимир Леонидович ; [Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений] |
|
2001 |
Сороко, Лев Маркович (доктор физико-математических наук, физик ; 1923—2009) |
First test model of the optical microscope which images the whole vertical particle tracks without ay depth scanning / L.M.Soroko |
|
2002 |
Сороко, Лев Маркович (доктор физико-математических наук, физик ; 1923—2009) |
3D inspection by conical wavefronts / L.M.Soroko |
|
1998 |
Белорусский семинар по сканирующей зондовой микроскопии (3 ; 1998 ; Гродно) |
Третий Белорусский семинар по сканирующей зондовой микроскопии, Гродно, 8-9 окт. 1998 г. = Third Belarussian seminar on scanning probe microscopy : Сб. докл. / Редкол.: А.И.Свириденок и др |
|
2004 |
Миронов, Виктор Леонидович (доктор физико-математических наук ; род. 1959) |
Основы сканирующей зондовой микроскопии : учебное пособие для старших курсов высших учебных заведений / В. Миронов ; Российская академия наук, Институт физики микроструктур (г. Нижний Новгород) |
|
2005 |
Пантелеев, В. Г. |
Компьютерная микроскопия / В.Пантелеев, О.Егорова, Е.Клыкова |
|
1993 |
Шумская, Надежда Иануарьевна (геология ; род. 1923) |
Минераграфические исследования руд с применением микроскопов-спектрофотометров : Метод. рук. / Н. И. Шумская, В. Д. Ляхницкая ; Всерос. науч.-исслед. геол. ин-т им. А. П. Карпинского |
|
2006 |
Виноградова, Ольга Александровна |
Анализ и оптимизация параметров осветительного устройства микроскопа : автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата технических наук : 05.11.07 / Виноградова Ольга Александровна ; Санкт-Петербургский государственный университет информационных технологий, механики и оптики |
|
2004 |
Нургазизов, Нияз Ильгизович (кандидат физико-математических наук) |
Изучение радиационно-стимулированного растворения диоксида кремния с помощью атомно-силового микроскопа : автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук : 01.04.17 / Нургазизов Нияз Ильгизович ; [Казанский физико-технический институт им. Е.К.Завойского Казанского научного центра Российской академии наук] |
|
1992 |
|
Технические характеристики современной оптической аппаратуры для исследования минерального сырья / Разраб.:Е.Г.Рябева,Т.А.Хрулева |
|
1930 |
Матушкин, И. Ф. (физик) |
Основы построения хода лучей в оптических инструментах : эквивалентная линза, лупа, микроскоп и оптическая труба : с 18 чертежами / И. Ф. Матушкин ; Белорусская государственная сельскохозяйственная академия |
|
2003 |
Фролов, Дмитрий Николаевич |
Анализ проблем композиции оптических систем световых микроскопов : автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. техн. наук : 05.11.07 / Фролов Дмитрий Николаевич ; [С.-Петерб. гос. ин-т точной механики и оптики (техн. ун-т)] |
|
1994 |
Корчагин, Вадим Николаевич |
Определение кардинальных точек и параметров оптических систем. Моделирование зрительной трубы и микроскопа : Метод. указания к лаб. работе 0-5 по курсу общ. физики / Под ред. Ю.И.Беззубова ; Моск. гос. техн. ун-т им. Н.Э.Баумана |
|
1998 |
Obukhov, Yu V |
The London penetration depth measurement using SQUID microscope |
|
2004 |
|
Справочник по ботанической микротехнике. Основы и методы / Р.П.Барыкина [и др.] |
СВОДНЫЙ ЭЛЕКТРОННЫЙ КАТАЛОГ